如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱: 快速溫度變化（濕熱）試驗(yàn)箱
產(chǎn)品型號(hào): TC快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱
產(chǎn)品展商: Lab Companion
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
Lab Companion TC系列快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱 Fast Temperature Cycle Test Chamber是宏展科技的上等產(chǎn)品，它把產(chǎn)品測(cè)試帶到了一個(gè)全新的階段。高性能Platinum系列試驗(yàn)箱能使箱內(nèi)環(huán)境和被測(cè)產(chǎn)品產(chǎn)生快速溫度變化，從而大大減少了試驗(yàn)時(shí)間，提高了試驗(yàn)的工作效率。快速溫度變化也使被測(cè)產(chǎn)品產(chǎn)生了更大的應(yīng)力，因而也提高了應(yīng)力篩選效率。快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱 Fast Temperature Cycle Test Chamber
快速溫度變化（濕熱）試驗(yàn)箱
的詳細(xì)介紹
Lab Companion 快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱 Fast Temperature Cycle Test Chamber
快溫變應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱是產(chǎn)品在設(shè)計(jì)強(qiáng)度極限下，運(yùn)用溫度加速技巧(在上、下限極值溫度內(nèi)進(jìn)行循環(huán)時(shí)，產(chǎn)品產(chǎn)生交替膨脹和收縮)改變外在環(huán)境應(yīng)力，使產(chǎn)品中產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變，透過(guò)加速應(yīng)力來(lái)使?jié)摯嬗诋a(chǎn)品的瑕疵浮現(xiàn)[潛在零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵]，以避免該產(chǎn)品于使用過(guò)程中，受到環(huán)境應(yīng)力的考驗(yàn)時(shí)而導(dǎo)致失效，造成不必要的損失，對(duì)于提高產(chǎn)品出貨良率與降低返修次數(shù)有顯著的效果，另外應(yīng)力篩本身是一種制程階段的過(guò)程，而不是一種可靠度試驗(yàn)，所以應(yīng)力篩選是100%對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行的程序。
對(duì)應(yīng)特點(diǎn)：
對(duì)應(yīng) IEC規(guī)格試驗(yàn)和汽車(chē)相關(guān)規(guī)格試驗(yàn)。
能夠?qū)崿F(xiàn)在有試樣情況下，1℃～10℃的斜率控制
冷輸出節(jié)能調(diào)溫調(diào)濕控制系統(tǒng)，雙PID及水蒸氣分壓控制，技術(shù)成熟、精度極高?？蓪?shí)現(xiàn)高精度的溫度控制。
在定值運(yùn)轉(zhuǎn)及程序運(yùn)轉(zhuǎn)（斜率控制）中
產(chǎn)品綠色環(huán)保、省耗節(jié)能。通過(guò)相關(guān)接口均可進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)控制及數(shù)據(jù)采集。
溫度運(yùn)轉(zhuǎn)模式：0℃以下的運(yùn)轉(zhuǎn)的話，基本可以做到只用冷凍機(jī)去達(dá)到溫度控制（Dual PID控制 ）···加熱器輸出是常OFF。
可模擬汽車(chē)行走環(huán)境后零部件重復(fù)快速溫度變化
例如：-40℃~+125℃的循環(huán)等，評(píng)價(jià)其耐久性。
對(duì)應(yīng)汽車(chē)零部件的各種結(jié)露實(shí)驗(yàn)
溫度變化率：5℃／分以上、10℃／分以上、15℃／分以上、20℃／分以上。
根據(jù)日益增多的半導(dǎo)體，車(chē)載電子相關(guān)電子元器件檢測(cè)需求，增加了200L,300L小容量的快溫變?cè)囼?yàn)箱
新型號(hào)T-200-20,T-300-20,溫度變化率：20℃/min，結(jié)構(gòu)緊湊，功能強(qiáng)大。
滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）
GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GJB 150.3A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：低溫試驗(yàn)
GJB 150.9A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第9部分：濕熱試驗(yàn)
主要技術(shù)指標(biāo)
※1 溫度箱按照GB/T5170.2,IEC60068-3-5及濕度箱按照GB/T5170.5,IEC60068-3-6的規(guī)定，環(huán)境溫度＋23℃、相對(duì)濕度65±20%rh、額定電壓、無(wú)試樣時(shí)。
※2 箱內(nèi)溫度是＋20℃。
※3 不包括突出部分。[ ]內(nèi)的尺寸包括突出部分。
※4 該升降溫速率為去掉總溫度區(qū)間的前后10%的升降溫速率的值。
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產(chǎn)品&規(guī)范
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廠商名稱
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高溫
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低溫
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溫變率
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循環(huán)數(shù)
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循環(huán)
時(shí)間
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備注
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MIL-STD-2164、GJB-1032-90
電子產(chǎn)品應(yīng)力篩選
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工作極限溫度
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工作極限溫度
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5℃/min
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10～12
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3h20min
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MIL-344A-4-16
電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選
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設(shè)備或系統(tǒng)
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71℃
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-54℃
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5℃/min
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10
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MIL-2164A-19
電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選
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工作極限溫度
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工作極限溫度
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10℃/min
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10
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駐留時(shí)間為內(nèi)部達(dá)到指定溫度10℃時(shí)
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NABMAT-9492
美軍海軍制造篩選
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設(shè)備或系統(tǒng)
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55℃
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-53℃
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15℃/min
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10
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駐留時(shí)間為內(nèi)部達(dá)到指定溫度5℃時(shí)
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GJB/Z34-5.1.6
電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選
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組件
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85℃
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-55℃
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15℃/min
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≧25
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達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間
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GJB/Z34-5.1.6
電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選
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設(shè)備或系統(tǒng)
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70℃
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-55℃
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5℃/min
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≧10
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達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間
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筆記型計(jì)算機(jī)
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主機(jī)板廠商
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85℃
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-40℃
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15℃/min
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溫度循環(huán)試驗(yàn)箱◎RAMP試驗(yàn)溫變率列表
溫度循環(huán)試驗(yàn)箱◎RAMP試驗(yàn)條件列表
溫度循環(huán)試驗(yàn)箱◎適用相關(guān)規(guī)范對(duì)照表
快速溫度變化試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱,環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱
