電源模塊在使用過(guò)程中容易發(fā)生故障的時(shí)期在早期和中后期，而電源生產(chǎn)廠家只能在早期的時(shí)候能夠進(jìn)行操縱，到了中后期便有一定的困難。這是由于在加工過(guò)程中僅僅做了簡(jiǎn)易的插電檢測(cè)，并沒(méi)有做長(zhǎng)期自然環(huán)境的插電檢測(cè)。因此電源模塊在出廠前需要?dú)v經(jīng)嚴(yán)苛的檢測(cè)，高低溫試驗(yàn)就是在其中一項(xiàng)。經(jīng)歷高低溫老化試驗(yàn)的電源模塊，能夠確保商品的品質(zhì)，使產(chǎn)品在應(yīng)用全過(guò)程中降低異常概率的出現(xiàn)，延長(zhǎng)使用壽命。

—、電源模塊高低溫試驗(yàn)的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

GB2424.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法

二、電源模塊高低溫試驗(yàn)的主要技術(shù)指標(biāo)

溫度范圍：-70℃、-40℃、-20℃C~+150℃

溫度波動(dòng)度：±0.5℃

溫度均勻度：≤2.0c

溫度偏差：±2.0℃

三、電源模塊高低溫試驗(yàn)的作用

1、在電源模塊開展高低溫老化試驗(yàn)時(shí)，應(yīng)用電腦上開展監(jiān)控器，能夠看得出電源在工作態(tài)度下的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，體現(xiàn)出了電源的應(yīng)用狀況。

2、長(zhǎng)期的脆化，可以監(jiān)控器出模塊特性隨溫度轉(zhuǎn)變而造成的更改。

3、在脆化時(shí)，可以查驗(yàn)出電源在加工過(guò)程中出現(xiàn)的難題，模塊可以長(zhǎng)期性平穩(wěn)運(yùn)作，可提升商品的可信性。

因?yàn)槟K電源越趨于小型化，應(yīng)用越來(lái)越廣泛，功率密度響應(yīng)越來(lái)越高，有關(guān)可靠性方面的題目尤其突出。尤其是有電解電容的電源模塊，高溫會(huì)使電解電容的電解液加速消費(fèi)，大大削減電解電容的壽命。高溫會(huì)使元器件材料加速老化，例如使得變壓器漆包線的絕緣特征降低，導(dǎo)致絕緣耐壓出現(xiàn)問(wèn)題甚至造成匝間短路。優(yōu)良的熱設(shè)計(jì)不僅可延伸模塊電源和其四周元器件的使用壽命，還可使整個(gè)產(chǎn)品發(fā)熱均勻，削減故障的發(fā)生。因此進(jìn)行高低溫試驗(yàn)是模塊電源廠家在確保模塊電源的質(zhì)量、競(jìng)爭(zhēng)能力及其價(jià)格高低的一項(xiàng)必要試驗(yàn)。